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http://repositorio.ufc.br/handle/riufc/55934| Tipo: | Artigo de Evento |
| Título : | Estudo estrutural e dielétrico da matriz cerâmicas Na2Nb4O11 adicionada de TIO2 |
| Título en inglés: | Structural and dielectric study of ceramic matrix NA2NB4O11 added with TIO2 |
| Autor : | Romeu, Mairton Cavalcante Oliveira, Ronaldo Glauber Maia de Sales, Antônio Jefferson Mangueira Silva Filho, José Miranda da Sales, Juscelino Chaves Silva, Paulo Maria de Oliveira Rodrigues Junior, Cauby Amorim Sombra, Antônio Sérgio Bezerra |
| Palabras clave : | Niobato de sódio;Eletrocerâmicas;Propriedades dielétricas |
| Fecha de publicación : | 2013 |
| Citación : | ROMEU, Mairton Cavalcante; OLIVEIRA, Ronaldo Glauber Maia de; SALES, Antônio Jefferson Mangueira; SILVA FILHO, José Miranda da; SALES, Juscelino Chaves; SILVA, Paulo Maria de Oliveira; RODRIGUES JUNIOR, Cauby Amorim; SOMBRA, Antônio Sérgio Bezerra. Estudo estrutural e dielétrico da matriz cerâmicas Na2Nb4O11 adicionada de TIO2. In: CONGRESSO BRASILEIRO DE CERÂMICA, 57º.; CONGRESSO IBEROAMERICANO DE CERÂMICA, 5º.,19 a 22 maio 2013, Natal, Rio Grande do Norte, Brasil. Anais […] Natal, Rio Grande do Norte, 2013.p.2695-2705. |
| Resumen en portugués brasileño: | A fase Na2Nb4O11 tem se mostrado com grande potencial para aplicações em componentes eletromagnéticos. Na literatura encontramos estudos nos quais suas propriedades ferroelétricas são examinadas. O objetivo deste trabalho foi realizar uma analise estrutural e dielétrica da matriz cerâmica Na2Nb4O11 com a adição de TiO2, nas proporções ( 0, 2% em massa) em uma faixa de frequência (100 Hz - 1 MHz) em temperatura ambiente. A caracterização Estrutural foi feita utilizando difratometria de Raio X, microscopia eletrônica de varredura e picnometria. Enquanto que na analise das propriedades dielétricas foram realizadas utilizando um analisador de impedância Solartron 1260. Os dados obtidos nessas medidas foram analisados através da técnica de espectroscopia de impedância complexa. Estas medições mostraram que a adição de TiO2 provocou um aumento no valor da permissividade até 50kHz e aumento perda dielétrica. |
| URI : | http://www.repositorio.ufc.br/handle/riufc/55934 |
| Aparece en las colecciones: | DETE - Trabalhos apresentados em eventos |
Ficheros en este ítem:
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