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Type:	Artigo de Evento
Title:	Caracterização e estudo das propriedades elétricas e dielétrcas do SrBi4Ti4O15 (SBTi) adicionado de PbO E V2O5 para aplicações em rádio frequência (RF).
Authors:	Rodrigues Junior, Cauby Amorim Silva, Marcelo Antonio Santos da Freitas, Daniel Barros de Fernandes, Tatiana Sainara Maia Sales, Juscelino Chaves Sombra, Antônio Sérgio Bezerra
Keywords:	Rádio frequência;Caracterização da perovskite SBTi;Miniaturização
Issue Date:	2011
Citation:	RODRIGUES JUNIOR, Cauby Amorim; SILVA, Marcelo Antonio Santos da; FREITAS, Daniel Barros de; FERNANDES, Tatiana Sainara Maia; SALES, Juscelino Chaves; SOMBRA, Antônio Sérgio Bezerra. Caracterização e estudo das propriedades elétricas e dielétrcas do SrBi4Ti4O15 (SBTi) adicionado de PbO E V2O5 para aplicações em rádio frequência (RF). In: CONGRESSO BRASILEIRO DE CERÂMICA, 55º., 29 maio a 01 jun. 2011, Porto de Galinhas, Pernambuco, Brasil. Anais […] Porto de Galinhas, Pernambuco, 2011.p.2102-2113.
Abstract in Brazilian Portuguese:	Esse trabalho tem como objetivo estudar as propriedades dielétricas e elétricas em rádio frequência (RF) do composto SrBi4Ti4O15 (SBTi) adicionado com PbO e V2O5. A cerâmica SBTi, perovskite com deficiência de cátion A5B4O15, foi preparada pelo método de reação em estado sólido e em seguida adicionado com PbO (0, 2, 5, 10 e 15% em peso) e com V2O3 (na faixa de 0, 2%, 5%, 10% e 15% em peso). As amostras foram estudadas através de difração de raios-X (XRD) e microscopia eletrônica de varredura (MEV). Um estudo baseado em Espectroscopia de Impedância também foi realizado. A análise de raios-X indica que todas as amostras possuem sistema cristalino ortorrômbico e grupo espacial A21am. A análise quantitativa de fase realizada pelo refinamento Rietveld confirmou a estrutura cristalina com parâmetro de rede a = 5.4400 Å, b = 5.4326 Å e c = 41.2169 Å . A microscopia eletrônica de varredura mostra os grãos de forma globulares e de forma de cristais, com uma certa uniformidade no tamanho de grão que se apresenta bastante diminuto, entre 1 e 2 μm aproximadamente. . As propriedades dielétricas: constante dielétrica (K’) e perda dielétrica (tang δ) foram medidas à temperatura ambiente na faixa de frequências de 40 Hz – 110 MHz, bem como a condutividade a.c e apresentam propriedades bastante relevantes, como a constante dielétrica acima de 50, para a produção de possíveis dispositivos capacitivos. Todas as amostras foram investigadas tendo em vista possíveis aplicações em circuitos eletrônicos.
URI:	http://www.repositorio.ufc.br/handle/riufc/55878
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