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http://repositorio.ufc.br/handle/riufc/55878
Registro completo de metadados
Campo DC | Valor | Idioma |
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dc.contributor.author | Rodrigues Junior, Cauby Amorim | - |
dc.contributor.author | Silva, Marcelo Antonio Santos da | - |
dc.contributor.author | Freitas, Daniel Barros de | - |
dc.contributor.author | Fernandes, Tatiana Sainara Maia | - |
dc.contributor.author | Sales, Juscelino Chaves | - |
dc.contributor.author | Sombra, Antônio Sérgio Bezerra | - |
dc.date.accessioned | 2020-12-30T20:02:07Z | - |
dc.date.available | 2020-12-30T20:02:07Z | - |
dc.date.issued | 2011 | - |
dc.identifier.citation | RODRIGUES JUNIOR, Cauby Amorim; SILVA, Marcelo Antonio Santos da; FREITAS, Daniel Barros de; FERNANDES, Tatiana Sainara Maia; SALES, Juscelino Chaves; SOMBRA, Antônio Sérgio Bezerra. Caracterização e estudo das propriedades elétricas e dielétrcas do SrBi4Ti4O15 (SBTi) adicionado de PbO E V2O5 para aplicações em rádio frequência (RF). In: CONGRESSO BRASILEIRO DE CERÂMICA, 55º., 29 maio a 01 jun. 2011, Porto de Galinhas, Pernambuco, Brasil. Anais […] Porto de Galinhas, Pernambuco, 2011.p.2102-2113. | pt_BR |
dc.identifier.uri | http://www.repositorio.ufc.br/handle/riufc/55878 | - |
dc.language.iso | pt_BR | pt_BR |
dc.subject | Rádio frequência | pt_BR |
dc.subject | Caracterização da perovskite SBTi | pt_BR |
dc.subject | Miniaturização | pt_BR |
dc.title | Caracterização e estudo das propriedades elétricas e dielétrcas do SrBi4Ti4O15 (SBTi) adicionado de PbO E V2O5 para aplicações em rádio frequência (RF). | pt_BR |
dc.type | Artigo de Evento | pt_BR |
dc.description.abstract-ptbr | Esse trabalho tem como objetivo estudar as propriedades dielétricas e elétricas em rádio frequência (RF) do composto SrBi4Ti4O15 (SBTi) adicionado com PbO e V2O5. A cerâmica SBTi, perovskite com deficiência de cátion A5B4O15, foi preparada pelo método de reação em estado sólido e em seguida adicionado com PbO (0, 2, 5, 10 e 15% em peso) e com V2O3 (na faixa de 0, 2%, 5%, 10% e 15% em peso). As amostras foram estudadas através de difração de raios-X (XRD) e microscopia eletrônica de varredura (MEV). Um estudo baseado em Espectroscopia de Impedância também foi realizado. A análise de raios-X indica que todas as amostras possuem sistema cristalino ortorrômbico e grupo espacial A21am. A análise quantitativa de fase realizada pelo refinamento Rietveld confirmou a estrutura cristalina com parâmetro de rede a = 5.4400 Å, b = 5.4326 Å e c = 41.2169 Å . A microscopia eletrônica de varredura mostra os grãos de forma globulares e de forma de cristais, com uma certa uniformidade no tamanho de grão que se apresenta bastante diminuto, entre 1 e 2 μm aproximadamente. . As propriedades dielétricas: constante dielétrica (K’) e perda dielétrica (tang δ) foram medidas à temperatura ambiente na faixa de frequências de 40 Hz – 110 MHz, bem como a condutividade a.c e apresentam propriedades bastante relevantes, como a constante dielétrica acima de 50, para a produção de possíveis dispositivos capacitivos. Todas as amostras foram investigadas tendo em vista possíveis aplicações em circuitos eletrônicos. | pt_BR |
Aparece nas coleções: | DETE - Trabalhos apresentados em eventos |
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Arquivo | Descrição | Tamanho | Formato | |
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