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dc.contributor.advisorSasaki, José Marcos-
dc.contributor.authorTeixeira, Elvis Marques-
dc.date.accessioned2018-05-10T22:30:50Z-
dc.date.available2018-05-10T22:30:50Z-
dc.date.issued2013-
dc.identifier.citationTEIXEIRA, E. M. Refinamento de tamanho de partículas e microdeformação de amostras policristalinas através de perfis de difração de raios-x utilizando as teorias cinemática e dinâmica. 2013. 47 f. Trabalho de Conclusão de Curso (Bacharelado em Física) - Centro de Ciências, Universidade Federal do Ceará, Fortaleza, 2013.pt_BR
dc.identifier.urihttp://www.repositorio.ufc.br/handle/riufc/31860-
dc.description.abstractThe instrumental broadening, systematically obtained by the use of a standard reference material profile can, in principle, be replaced by an analytical model of the instrumental broadening. For this purpose fast and stable computational routines must be developed to perform Fourier transforms, convolutions and least squares fitting, brand new technologies for parallel computing and graphics programming for visualization of data is now available, toolkits like Qt provide a way to create easy to use and visually appealing applications for structure refinement. On the other hand two theories exist to describe X-ray diffraction in crystals. The kinematical theory is simpler and provides good results for fine powders of imperfect crystals. The dynamical theory must be used for the treatment of diffraction in large perfect crystals and describes phenomena that are not explained by the kinematical theory. These two theories were used as models for refinement of crystallite size and lattice strain of two samples, one of them, a LaB6 SRM660 bought from NIST (National Institute for Standards and Technology), and the other a Cerianite (CeO2) synthesized at the LRX laboratory at the Federal University of Ceará using the protein sol-gel method and calcined in rotating oven. The program then developed was written in C++ on a GNU/Linux platform and is portable to other systems.pt_BR
dc.language.isopt_BRpt_BR
dc.subjectCristalografiapt_BR
dc.subjectRaios X - Difraçãopt_BR
dc.subjectMétodo Rietveldpt_BR
dc.titleRefinamento de tamanho de partículas e microdeformação de amostras policristalinas através de perfis de difração de raios-x utilizando as teorias cinemática e dinâmicapt_BR
dc.typeTCCpt_BR
dc.description.abstract-ptbrA largura instrumental, que se encontra sistematicamente nos difratogramas de raios-X de um material padrão de referência, uma mostra com tamanho de partícula elevado, baixa microdeformação e alta homogeneidade, pode ser substituído, em princípio, por uma expressão analítica que reproduza o alargamento dos picos do perfil de difração devido ao instrumento. Para isto é necessário o desenvolvimento de rotinas computacionais rápidas e eficientes para o cálculo de transformadas de Fourier, convoluções e de ajuste por mínimos quadrados. Ferramentas para programação em paralelo e computação gráfica, como as bibliotecas Qt, estão agora disponíveis para o desenvolvimento de programas de refinamento estrutural fáceis de usar e visualmente apelativos. Duas teorias existem para descrever a difração de raios-X em cristais. A primeira, chamada de teoria cinemática, fornece bons resultados na previsão da intensidade da difração em pós finos de cristais imperfeitos e é mais simples. A segunda teoria, conhecida como teoria dinâmica, se aplica à difração em cristais com alta perfeição cristalina e espessos, pois fornece explicações para fenômenos internos de interferência que são negligenciados pela teoria cinemática. Estas duas teorias foram usadas no refinamento de estrutura Rietveld de duas amostras: uma delas de LaB6 (SRM 660) adquirida do NIST (National Institute for Standards and Technology) e a outra de óxido de Cério (CeO2) sintetizado no LRX – UFC através do método sol-gel protéico e calcinado em forno rotativo. Parâmetros estruturais, tamanho e microdeformação foram determinados.pt_BR
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